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國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-12-05 09:16
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摘要：
國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
我國(guó)環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)及名稱(chēng) | 采用 程度 | 對(duì)應(yīng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)名稱(chēng) |
GB2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分 總則 | 等同 | IEC68-1-1988 環(huán)境試驗(yàn) **部分 總則 修正件1（1992） |
GB2422-1995 環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ) | 等效 | IEC68-5-2-1990 環(huán)境試驗(yàn) 第五部分起草試驗(yàn)方法導(dǎo)則術(shù)語(yǔ)和定義 |
GB2423.1-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 | 等同 | IEC68-2-1-1990替代1974年版 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)A：寒冷 修正件1（1993），修正件2（1994） |
GB2423.2-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 | 等同 | IEC68-2-2-1974 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)B：干熱 修正件1（1993） 修正件2（1994） |
GB2423.3-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-3-1985 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱 |
GB2423.4-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-30-1985 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Db 及導(dǎo)則：交變?cè)囼?yàn)濕熱（12+12小時(shí)循環(huán)） 修正件1（1985） |
GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊 | 等同 | IEC68-2-27-1987 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ea及導(dǎo)則：沖擊 |
GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞 | 等同 | IEC68-2-29-1987 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Eb及導(dǎo)則：碰撞 |
GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品） | 等同 | IEC68-2-31-1969 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ec：傾跌與翻倒 修正件1（1982） |
GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落 | 等同 | IEC68-2-32-1975 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ed：自由跌落 修正件1（1982），修正件2（1990） |
GB2423.9-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 | 等同 | IEC68-2-56-1988 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Cb：恒定濕熱（主要用于設(shè)備） |
GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦） | 等同 | IEC68-2-6-1985 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fc及導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦） |
GB2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd：寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法 一般要求 | 等同 | IEC68-2-34-1973 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fd：寬帶隨機(jī)振動(dòng) 一般要求 修正件1（1983） |
GB2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——高再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-35-1973 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fda：寬帶隨機(jī)振動(dòng) 高再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——中再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-36-1973 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fdb：寬帶隨機(jī)振動(dòng) 中再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——低再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-37-1973 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fdc：寬帶隨機(jī)振動(dòng) 低再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 | 等同 | IEC68-2-7-1983 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ca及導(dǎo)則 恒加速度 |
GB2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉 | 等同 | IEC68-2-10-1988 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：霉菌生長(zhǎng) |
GB/T 2423.17-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC 68-2-11-1981 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ka：鹽霧 |
GB2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧、交變（氯化鈉溶液） | 等同 | IEC68-2-52-1996 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：交變鹽霧（氯化鈉溶液） |
GB2423.19-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-42-1982 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn) |
GB2423.20-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫化氫試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-43-1976 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn) |
GB2423.21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法 | 非等效 | IEC68-2-13-1983 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)M：低氣壓 |
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-14-1984 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)N：溫度變化 修正件1（1986） |
GB2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q：密封試驗(yàn)方法 | 等同 | IEC68-2-17-1994替代1987年版 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封 |
GB2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射 | 等同 | IEC68-2-5-1975 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射 |
GB2423.25-92 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-40-1976 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn) 修正件1（1983） |
GB2423.26-92 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-41-1976 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗(yàn) 修正件1（1983） |
GB2423.27-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A/ZMD：低溫、低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-39-1976 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AMD：低溫、低氣壓和濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn) |
GB2423.28-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-20-1979 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)T：錫焊 修正件2（1987） |
GB2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件長(zhǎng)度 | 等同 | IEC68-2-21-1983 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)U：引出線和整體安裝件強(qiáng)度 修正件3（1992） |
GB2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗中浸漬 | 等同 | IEC68-2-45-1980 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)XA及導(dǎo)則：在清洗中浸漬 修正件1（1993） |
GB2423.31-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法 | ||
GB2423.32-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ta：濕潤(rùn)稱(chēng)量可焊性試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-54-1985 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ta：錫焊、濕潤(rùn)稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn) |
GB2423.33-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法 | ||
GB2423.34-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-38-1974 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) |
GB2423.35-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn) | 等效 | IEC68-2-50-1983 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AFc：低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)（散熱和非散熱試驗(yàn)樣品通用） |
GB2423.36-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn) | 等效 | IEC68-2-51-1983 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn) |
GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法 | IEC68-2-68-1994 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)L：灰塵和沙粒 注：97年報(bào)批等同采用 | |
GB2423.38-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R：水試驗(yàn) | 等效 | IEC68-2-18-1989 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)R和導(dǎo)則 水 修正件1（1993） |
GB2423.39-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法 | 等效 | IEC68-2-55-1987 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ee及導(dǎo)則：彈跳 |
GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 | 等同 | IEC68-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱（不飽和高壓蒸氣） |
GB/T2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法 | ||
GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法 | ||
GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 元件設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動(dòng)（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）中的動(dòng)力試驗(yàn)時(shí)的安裝導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-2-47-1982 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、振動(dòng)（Fc和Fd）和恒加速度（Ga）等動(dòng)力試驗(yàn)時(shí)的安裝導(dǎo)則 |
GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg：撞擊 彈簧錘 | 等同 | IEC68-2-63-1991 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Eg：彈簧錘撞擊 |
GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序 | 等同 | IEC68-2-61-1991 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序 |
GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊——擺錘 | 等同 | IEC68-2-62-1991 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ef：擺錘撞擊 修正件1（1993） |
GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg：聲振 | 等同 | IEC68-2-65-1994 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fg：振動(dòng) 誘發(fā)噪聲 |
GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng) 時(shí)間歷程法 | 等同 | IEC68-2-57-1989 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ff：振動(dòng) 時(shí)間歷程法 |
GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng) 正弦拍頻法 | 等同 | IEC68-2-59-1990 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fe：振動(dòng) 正弦拍振法 |
GB/T2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) | 等同 | IEC68-2-67-1995 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) |
GB/T2423.XX-19XX 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Fh：振動(dòng) 寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-2-64-1993替代1989年版 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Fh：振動(dòng) 寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則 |
GB/T2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn) | 等同 | IEC68-2-6-1995 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合立體腐蝕試驗(yàn) |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Td：表面安裝器件耐熔化金屬鍍層和表面焊接熱 可焊性試驗(yàn) | IEC68-2-58-1989 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 表面安裝器件（SMD）耐焊熱和金屬敷鍍層耐融熔的可焊性 | |
不采用 | IEC653-1979 超聲波清洗總則 | |
GB/T2423.XX 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Cy：濕熱恒定 | 等同 | IEC68-2-67-1995 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Cy：濕熱恒定 |
GB2423.1-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-3-1-1974 環(huán)境試驗(yàn) 第三部分 背景材料 第1篇 寒冷和干熱 **次補(bǔ)充 68-3-1A（1978） |
GB/T2424.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 | 等效 | IEC68-2-28-1990 環(huán)境試驗(yàn) **部分 試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 |
GB2424.5-81 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 傾跌與翻倒試驗(yàn)導(dǎo)則 |